O analisador XRF HS-XS1 é um espectrômetro de fluorescência de raios X projetado para realizar análise elementar rápida e precisa de amostras sólidas, líquidas e em pó, com a capacidade de medir elementos que vão do magnésio (Mg) ao urânio (U) em faixas que vão de ppm até 100 %, oferecendo resultados abrangentes em poucos minutos e com elevada confiabilidade para orientar decisões de produção e controle de qualidade.  Ele opera com um dispositivo de emissão de raios X de alta tensão ajustável (4–50 kV) e um detector de alta resolução (~123 eV) que garantem estabilidade e baixa variação ao longo do tempo, e pode ser usado tanto em análises de laboratório por tableteamento quanto em testes rápidos no local, facilitando a adaptação às necessidades do usuário.  Projetado para oferecer análises elementares completas de forma eficiente e simples, o HS-XS1 combina robustez e facilidade de uso, com software de operação intuitivo e um design que pode incluir energia por bateria para aplicações em campo, sendo adequado para ambientes industriais, de mineração, metalurgia e outros setores que demandam resultados rápidos e confiáveis. 

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