Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) - Modelo SuperSEM N10X

O SuperSEM N10X é um Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) de alta resolução, desenvolvido para análises microestruturais de precisão, caracterização de materiais, controle de qualidade industrial e pesquisa científica avançada. Projetado para oferecer imagens de altíssima nitidez e excelente profundidade de campo, o equipamento permite a observação detalhada da topografia e morfologia de superfícies em escala micrométrica e nanométrica.

O que faz a Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV)?

A tecnologia MEV substitui a luz visível dos microscópios ópticos convencionais por um feixe focalizado de elétrons de alta energia.

Ao interagir com a superfície da amostra, o feixe gera sinais como elétrons secundários (SE) e elétrons retroespalhados (BSE). Os elétrons secundários fornecem imagens topográficas de altíssima resolução, enquanto os elétrons retroespalhados revelam variações de composição química baseadas no número atômico dos elementos presentes. O resultado é uma ampliação tridimensional detalhada, permitindo a análise de falhas, fraturas, tamanho de grão e microestruturas com precisão técnica incomparável.

Destaques do SuperSEM N10X

Alta Resolução em Nanoescala: Coluna eletrônica otimizada que garante imagens nítidas mesmo em ampliações extremamente altas.

Detectores de Alta Eficiência: Equipado com detectores integrados de elétrons secundários (SE) para topografia e elétrons retroespalhados (BSE) para contraste de composição.

Estágio de Amostras Automatizado e Preciso: Platina motorizada com controle micrométrico multi-eixo, permitindo navegação suave, rápida e segura pela amostra.

Interface Intuitiva e Automação: Software de operação moderno com funções automatizadas de foco, alinhamento de feixe, brilho e contraste para agilizar a rotina analítica.

Design Compacto e Estável: Estrutura projetada para minimizar vibrações mecânicas e interferências eletromagnéticas, garantindo estabilidade técnica contínua.

Integração com Sistemas EDS: Totalmente preparado para acoplamento de sistemas de Espectrometria de Dispersão de Energia (EDS) para microanálise química elementar qualitativa e quantitativa.

Aplicações Principais

Metalurgia e Siderurgia: Análise de fractografia, identificação de inclusões, controle de tratamentos térmicos e tamanho de grão.

Ciência dos Materiais e Nanotecnologia: Caracterização de nanomateriais, cerâmicas avançadas, polímeros, compósitos e revestimentos.

Geologia e Mineração: Estudo de mineralogia de processo, textura de minérios e análise de microfósseis.

Eletrônica e Semicondutores: Inspeção de circuitos integrados, juntas de solda, microcomponentes e análise de falhas.

Especificações Técnicas

Modelo: SuperSEM N10X

Fonte de Elétrons: Filamento de Tungstênio (ou Emissão de Campo conforme configuração)

Detectores: Elétrons Secundários (SE) e Elétrons Retroespalhados (BSE)

Tensão de Aceleração: Ajustável continuamente para diferentes tipos de amostras

Platina de Amostras: Motorizada com movimentação precisa em múltiplos eixos

Interface de Controle: Plataforma digital via software com captura de imagem em alta definição

Fale com um especialista

Endereço, mapa interativo e formulário para dúvidas rápidas. Estamos prontos para atender suas necessidades analíticas.