O difratômetro de raios X de alta resolução TDM-20 (tipo bancada) é utilizado principalmente para análise de fases de pós, sólidos e materiais pastosos semelhantes. O princípio da difração de raios X pode ser aplicado para análises qualitativas ou quantitativas, bem como para a análise da estrutura cristalina de materiais policristalinos, como amostras em pó e amostras metálicas. É amplamente utilizado nas áreas de indústria, agricultura, defesa nacional, farmacêutica, mineração, segurança alimentar, petróleo, educação e pesquisa científica, entre outras.

O difratômetro de raios X de alta resolução TDM-20 (tipo desktop) supera o padrão técnico internacional original de 600 W, sendo atualizado para uma nova potência de 1600 W. Além disso, apresenta operação simples, desempenho estável e baixo consumo de energia. Pode ser equipado com detector proporcional ou com um novo detector de matriz de alta velocidade, proporcionando um salto significativo no desempenho geral do equipamento.

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